超高分辨场发射扫描电镜（配能谱元素分析）

负责人：蔡红英联系方式：62796284

仪器名称超高分辨场发射扫描电镜（配能谱元素分析）

仪器型号、生产厂家JSM 7401型,日本电子(JEOL)

基本性能、指标

分辨率15kv,1.0nm/1kv,1.5nm；加速电压100V-30kV

放大倍数×25～106

加速电压0.1 kV to 30 kV束流强度10-13A to 2×10-9A

电子枪种类冷场发射电子枪探测器高位探头低位探头

马达控制3 axes (XYR)实时图像分辨率1280 × 1024

自动聚焦、曝光、消像散

用途:

1.可对各种有机、无机、纳米材料进行微观形态研究，获得其表面形貌；

对于不导电样品可以直接观察，不需要镀金。

2.用于晶体材料的取向信息与结构信息分析。

3.含图像处理软件，可以直接从图像中获得粒径统计信息。

4.图像可以伪彩处理。

收费标准元/时

元/每样品350元/时

存放地点清华大学化工系工物馆104

负责人姓名蔡红英

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